穩(wěn)科磁性元件分析儀1J3260B

產(chǎn)品介紹：

在線圈產(chǎn)品的檢測(cè)領(lǐng)域中，Wayne Kerr 一直是，各地也一致*WK產(chǎn)品的精度、功能性及其優(yōu)良的*，3255B電感分析儀亦承襲了以上所有優(yōu)勢(shì)。
運(yùn)用新科技，結(jié)合所需的量測(cè)功能，3255B不但是一臺(tái)有高精度、高效率且多功能的產(chǎn)品，它優(yōu)惠的價(jià)格所提供的成本效益，更是市場(chǎng)上其他產(chǎn)品所*。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 穩(wěn)科磁性元件分析儀1J3260B 0.1%基本精度（英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)），電感、變壓器業(yè)界*標(biāo)準(zhǔn)儀器；

• 測(cè)包機(jī)超速測(cè)試，加載2A DC Bias, 52顆／Min ；

• 四線式測(cè)試，可量測(cè)極低的Rdc、Rs及L與Q；

• 外加DC Bias（直流偏壓電流）可到250A（選配）；

• WK3255B可內(nèi)置1A DC Bias（選配）；

• WK3260B內(nèi)置1A DC Bias可直接畫出磁飽和曲線或多點(diǎn)DC Bias與多點(diǎn)頻率自動(dòng)檢測(cè)功能；

• 涵蓋Rdc（直流電阻）及Turn Ratio（圈數(shù)比），初級(jí)、次級(jí)漏電感與層間電容測(cè)試等變壓器測(cè)試參數(shù)；

• 測(cè)試解決方案：Layer  Short,可直接量測(cè)六項(xiàng)DC Bias Ramp up及Ramp down參數(shù)， 不需人工換算；

• 儀器內(nèi)阻50Ω，但具備定電壓（ALC）及定電流功能，可準(zhǔn)確測(cè)試；

• SMD, DIP以及異形組件的200A高電流之測(cè)試治具齊全；

• ·提供Factory view軟件計(jì)算機(jī)連接功能；

• 具真正溫升曲線測(cè)試功能，非Rdc換算；

功能介紹：

規(guī)格參數(shù)：

※ Varies with frequency

標(biāo)準(zhǔn)配置

選用配備一覽表：

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穩(wěn)科代理商：蘇州裕登電子科技有限公司

我們的優(yōu)勢(shì)：穩(wěn)科、是德、泰克、固緯、福祿克、艾德克斯、安柏、艾諾、長(zhǎng)盛、同惠等。

產(chǎn)品涵蓋：示波器、電源、萬用表、信號(hào)發(fā)生器、安規(guī)測(cè)試儀、LCR測(cè)試儀、電子負(fù)載、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、電池內(nèi)阻測(cè)試儀、溫度記錄儀、功率分析儀、微奧姆計(jì)、頻率計(jì)等儀器儀表。